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中国留美学生谈赴美留学应试技巧及联系策略(第二版)

作者:罗孟林,罗智 主编

出版社:华中科技大学出版社

出版日期:2001年04月
个人简介
罗孟林(Menglin Luo):1989年考入中国科技大学生物系。TOEFL成绩为640分,GRE双项成绩为2180、970分。1992年7月入美国路易斯维尔大学,1993年6月转入布朗大学攻读博士学位。
罗智(Zhi Luo):1988年考入华中理工大学计算机系。TOEFL成绩为627分,GRE成绩为2100分。1994年10月入美国哈佛大学攻读博士学位。
方洪斌(Hongbin Fang):1989年考入中国科技大学材料科学系。TOERL成绩为647分,GRE双项成绩为2100、950分。1993年6月入美国哥伦比亚大学攻读博士学位。
吴浩(Hao Wu):1989年考入中国科技大学物理系。TOEFL成绩为640分,GRE成绩为2180分。1992年7月入美国迈阿密大学,1993年6月转入布兰迪斯大学攻读博士学位。
吕延翔(Yanxiang Lu):1989年考入中国科技大学生物系。TOEFL成绩为643分,GRE成绩为2150分。1992年5月入美国犹他大学攻读博士学位。
内容简介
本书不同于一般的留学指导书籍或托福、GRE习题集,而是国内第一部由中国留美学生结合自身经历和体会编著而成的赴美留学指南。这五位青年作者近两年里分别在托福、GRE考试中取得了优异成绩,从而获得了美方院校的全额奖学金资助,现就读于美国名牌大学。他们了解托福、GRE考试的最新动态,通晓各类题型的应试技巧,熟谙申请留美过程中的联系诀窍,掌握赴美留学的第一手材料。
作者在书中真实而详尽地记叙了赴美留学的全过程,诸如:托福、GRE/GMAT实战技巧;联系美国大学和争取奖学金资助策略;快速办理护照和签证;赴美前的准备;我国最新出国留学政策以及美国新移民法等。同时,他们还介绍了一些鲜为人知的留学联系秘诀,例如:如何不通过ETS寄送托福、GRE成绩……,使广大留学申请者耳目一新,受益非浅。以上内容的介绍都是属于记实性的,无疑是真实、可靠的。
全书内容系统全面,材料翔实,实用性极强,可谓叩开留美奖学金大门的一把金钥匙。读者“一册在手,纵览全貌”,任凭留学联系过程中如何风云变幻,只需按图索骥,必能在激烈的奖学金争夺战中脱疑而出,从容自如地飞向大洋彼岸,实现自己的留学理想。
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