内容简介
JB/T6065自1992年发布以来,为我国磁粉检测用试片提供了技术要求和检验方法。为了适应我国加入WTO的需要，促进贸易与交流，有必要修订JB/T6065的内容。修订后的JB/6065更加突出了以用户为关注焦点的理念。
试片的技术要求仅以满足磁粉检测目的为原则，这有利于产品的创新和满足不同用户的需要，与此同时，则要求制造商向用户提供产品的使用说明书。
本标准的试片用于验证磁粉检测综合性能（系统灵敏度）。A型试片，适用于在较宽大或平整的被检表面上使用；C型和D型试片，适用于较窄小或弯曲的被检表面上使用。高灵敏度的试片，用于验证要求有较高检测灵敏度的磁粉检测综合性能；低灵敏度的试片，用于验证要求有较低检测灵敏度的磁粉检测综合性能。只有符合要求的磁粉检测综合性能，相应的磁粉检测结果才是有效和可靠的。