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电子显微分析/普通高等教育

作者:章晓中 编著

出版社:清华大学出版社

出版日期:2006年12月
个人简介
章晓中,牛津大学材料系博士(1989年,国家公费生)。The Royal Institution of Great Britain博士后研究员(1989-1992)。新加坡国立大学物理系研究员、讲师、高级讲师(1992-1999年),1999年起任清华大学材料系教授(博导),现任清华大学电镜室主任、先进材料教育部重点实验室副主任、全国纳米技术标委会副主任委员、中国分析测试协会咨询委员会委员、全国微束分析标委会委员。主要研究兴趣:纳米材料与纳米结构、磁阻与超导材料、电子显微学,计算材料学,发表SCI论文100多篇。
内容简介
本书作为学习电子显微分析技术的入门书,主要介绍透射电子显微术(电子衍射、质厚衬度像、衍射衬度像)、扫描电子显微术(包括背散射电子衍射和环境扫描显微镜)、电子探针和微分析(能谱与波谱)以及扫描探针显微术(扫描隧道显微镜和原子力显微镜),还定性介绍了高分辨电子显微术、会聚束衍射、微衍射、电子能量损失谱、能量过滤像、扫描透射显微术、电子全息术、电子三维重构像和原位透射电镜技术。此外,书中对目前透射电子显微镜的最新进展——球差校正透射电镜技术作了简要介绍。
本书是一本将电子显微学理论和应用密切结合,兼顾不同层次读者群的专业基础课教材,适用于材料、物理、化学、化工、机械、微电子、土木、生物、医学等学科的本科生或研究生,也可作为非电子显微学专业人员的参考书。
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