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系统芯片SoC的设计与测试

作者:潘中良 著

出版社:科学出版社

出版日期:2009年10月
个人简介
潘中良,博士,教授。电子科技大学(成都)电路与系统专业博士毕业,中山大学博士后出站。主持或参加了国家自然科学基金项目、国家八五重点科技攻关项目以及省部级科研项目等十余项,在国内外学术期刊与国际会议上发表学术论文五十余篇。主要从事大规模集成电路的设计与测试、嵌入式系统设计、计算机应用等方面的科研与教学工作。
内容简介
系统芯片SoC能实现一个系统的功能,它是从整个系统的功能和性能出发,采用软硬结合的设计和验证方法,利用芯核复用及深亚微米技术,在一个芯片上实现复杂的功能。系统芯片具有速度快、集成度高、功耗低等特点。本书详细介绍了系统芯片SoC的设计与测试的关键技术和主要方法。全书共15章,内容包括:系统芯片的设计模式与流程、系统芯片的总线结构、芯核设计、软硬件协同设计、系统芯片的存储系统设计、系统芯片中模拟/混合信号的设计、系统芯片的低功耗设计、信号完整性、系统芯片的验证、系统芯片的可测性设计、测试调度与测试结构的优化设计、芯核的测试、系统芯片的物理设计、片上网络等。
本书可作为电子、通信、计算机、自动控制等学科高年级本科生和研究生的教材,也适合于从事电子信息、数字系统设计、测试和维护等相关专业的研究人员、工程技术人员学习参考。
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