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光电子器件微波封装和测试

作者:祝宁华 著

出版社:科学出版社

出版日期:2007年07月
个人简介
祝宁华,研究员,1978~1989年电子科技大学获学士、硕士和博士学位;1 989~1 990年中山大学从事博士后研究工作;1990~1994年在中山大学工作,1994年晋升为教授;1994~1 995年香港城市大学研究员;1996~1 998年德国西门子公司客座科学家(洪堡研究员);1997年入选中国科学院“百人计划”进入中国科学院半导体研究所工作;1998年获杰出青年科学基金;2004年入选“新世纪百千万人才工程”国家级人选。
在光波导器件的理论研究与优化设计,用于微波集成电路和光电集成器件的各种传输线的模拟分析,高速半导体激光器和调制器组件的研究开发方面都开展了卓有成效的工作。目前主持865项目,973课题,香港研究基金,基金委重大国际合作和重点项目,科技部重大国际合作等项目。申请发明专利25项,发表1 00多篇论文。
内容简介
本书总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果,系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术,先进性、学术性和实用性兼备。全书共十一章,内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计,网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法,数字和模拟通信光电子器件大信号频率响应特性测试方法,光电子器件本征响应特性分析和应用,光谱与频谱分析技术的总结。
本书适合从事光电子器件教学与研究的科技工作者、工程技术人员、研究生和高年级本科生阅读和参考。
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