个人简介
许振嘉，1929年出生，复旦大学物理系毕业。60年代初在英国进修、学术访问。中国科学院半导体研究所研究员。早年曾研究电子化合物的有序相变，Ⅲ-V族化合物半导体，半导体的检测、分析和半导体的杂质、缺陷态等。近年从事半导体表面，界面研究。在国内外学术期刊上发表学术论文和著作百余篇。主持撰写的专著《半导体的检测与分析》被评为科学出版社（1984-1985）年优秀图书。两次获中国科学院自然科学二等奖。
内容简介
本书是北京大学物理丛书中的《近代半导体材料的表面科学基础》分册，全书共分上、下两篇，共十四章，其内容包括基础篇和专题篇等等，详尽地阐述了近代半导体材料的表面科学。
本书内容全面，条理清晰，结构合理，讲解循序渐进，通俗易懂，具有较强的针对性及理论性，可供参考。