价值中国 - 财经商业新媒体
读书
正在读取登录信息...
图书详细信息 推荐图书 | 最新书评
表面分析(XPS和AES)引论

作者:(英)沃茨(Watts,J.F.),(英)沃斯滕霍姆(Wolstenholme,J.) 著,吴正龙 译

出版社:华东理工大学出版社

出版日期:2008年01月
内容简介
本书讲述了现代电子能谱中的单色化XPS、小面积。XPS(SAXPS)、成像XPS、XPS深度剖析、场发射AES/SAM等功能的分析技术,以及在冶金、腐蚀、陶瓷、催化剂、微电子半导体材料、黏合剂、涂料聚合物材料等领域中的应用;介绍了现代电子能谱仪中的微聚焦单色器、场发射体、离子枪、电子枪、能量分析器/传输透镜、荷电补偿器、多通道探测器、平行成像系统、平行数据采集、数据处理系统等等。书中将XPS和.AES技术与其他表面分析技术作了比较。书后附有参考文献、中英文电子能谱分析技术名词术语、网络资源等一些有用的信息。 本书既可供学习电子能谱分析技术的高年级本科生和研究生用作教材,也可供从事电子能谱专业人员以及使用电子能谱分析技术的科研技术人员阅读。
发表书评
本书标签
为此书添加标签:(多个标签用空格分隔)
图书购买信息
请对此书作出评价
请您登录后为此书评分



目前还没有人对此书评分
新书快递
广东联合出版公司 | 机械工业出版社 | 南京大学出版社 | 清华大学出版社 | 时代光华 | 人民邮电出版社 | 文汇出版社 | 中国经济出版社 | 中国青年出版社 | 中信出版社
浙江大学出版社 | 作家出版社 | 湛庐文化 | 长江文艺出版社 | 华章经管 | 经济日报出版社 | 中国城市出版社 | 财政出版社 | 中华工商联合出版社 | 新星出版社
重庆出版集团 | 人民文学出版社 | 中资海派 | 电子工业出版社世纪波公司 | 中国电力出版社 | 道中财富 | 含章行文 | 同舟人文化 | 华章同人