内容简介
本标准参照了IEC 60759：1983《半导体X射线能谱仪标准测试程序》。
本标准代替GB/T 13179—1991《硅(锂)X射线探测器系统》。
本标准与GB/T 13179—1991相比主要差异如下：
——增加了“硅(锂)X射线探测器系统”和“峰谷比”等19个术语以及“Cc”等12个符号(见本标准第3章)；
——产品的特征代号增加了两位表示灵敏体直径(见本标准的4.1)；
——在表1“硅(锂)X射线探测器系统产品规格表”中，增加了一栏灵敏直径的条目(见本标准的4.2)；
——表1中的能量分辨率每档均降低5 eV(见本标准的4.2)；
——充实了试验方法的内容(见本标准第6章)。
本标准附录A为资料性附录。
本标准由中国核工业集团公司提出。
本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会归口。
本标准起草单位：中核(北京)核仪器厂。
本标准主要起草人：殷国利。
本标准所替代标准的历次版本发布情况为：GB/T 13179～1991。